... vše o fyzikálním praktiku najdete právě na těchto stránkách
UK • MFF • KVOF
Zde můžete vidět rozdíly mezi vybranou verzí a aktuální verzí dané stránky.
Obě strany předchozí revize Předchozí verze | Následující verze Obě strany příští revize | ||
zadani:414 [ 5.04.2018 08:33] Hanzal Vojtěch RNDr. [Pracovní úkol] |
zadani:414 [ 5.04.2018 08:34] Hanzal Vojtěch RNDr. [Pracovní úkol] |
||
---|---|---|---|
Řádek 15: | Řádek 15: | ||
** Pokyny k měření:** | ** Pokyny k měření:** | ||
- | **Ad 1.** Napěťovou charakteristiku měřte v rozsahu 300 - 1050 V. Pro malá napětí od 300V použijte //**Zdroj 1.**// Pokuste se zachytit počátek funkce GM detektoru (kolem 310 V) a podrobněji ho proměřit. Pro vyšší napětí použijte //**Zdroj 2.**// V oblasti plata není nutné měřit příliš podrobně (stačí např. po 50 V), podrobněji proměřte až nárůst indikované četnosti nad 1000 V. Vhodná doba expozice je 10-20 s. | + | **Ad 1.** Napěťovou charakteristiku měřte v rozsahu 300 - 1050 V. Pro malá napětí od 300V použijte //**Zdroj 1.**// Pokuste se zachytit počátek funkce GM detektoru (kolem 310 V) a podrobněji ho proměřit. Pro vyšší napětí použijte //**Zdroj 2.**// V oblasti plata není nutné měřit příliš podrobně (stačí např. po 50 V), podrobněji proměřte až nárůst indikované četnosti nad 1000 V. Vhodná doba expozice je 10 - 20 s. |
**Ad 2.** Pro další měření je vhodné napětí kolem 400 V. Použijte přesnější //**Zdroj 1.**// | **Ad 2.** Pro další měření je vhodné napětí kolem 400 V. Použijte přesnější //**Zdroj 1.**// |