Základní fyzikální praktikum

... vše o fyzikálním praktiku najdete právě na těchto stránkách
UKMFFKVOF

Uživatelské nástroje

Nástroje pro tento web


zadani:331

Rozdíly

Zde můžete vidět rozdíly mezi vybranou verzí a aktuální verzí dané stránky.

Odkaz na výstup diff

Obě strany předchozí revize Předchozí verze
Následující verze
Předchozí verze
zadani:331 [ 3.02.2017 11:05]
Kudrnová Hana Mgr.
zadani:331 [ 3.02.2017 11:08] (aktuální)
Kudrnová Hana Mgr.
Řádek 12: Řádek 12:
   - U optického mikroskopu (OM) zjistěte zvětšení kamery pro objektivy s různým zvětšením. Pozorování proveďte v uspořádání analogickém skenovacímu elektronovému mikroskopu (SEM), tj. v odraženém světle. ​   - U optického mikroskopu (OM) zjistěte zvětšení kamery pro objektivy s různým zvětšením. Pozorování proveďte v uspořádání analogickém skenovacímu elektronovému mikroskopu (SEM), tj. v odraženém světle. ​
   - Na vhodných vzorcích zjistěte rozlišení OM a hloubku ostrosti pro alespoň dva různé objektivy a tyto hodnoty ověřte výpočtem. Pro výpočet uvažujte světlo o vlnové délce 550 nm. Rozdíly diskutujte.   - Na vhodných vzorcích zjistěte rozlišení OM a hloubku ostrosti pro alespoň dva různé objektivy a tyto hodnoty ověřte výpočtem. Pro výpočet uvažujte světlo o vlnové délce 550 nm. Rozdíly diskutujte.
-  - Vypočtěte vlnovou délku urychlených elektronů pro tři různé hodnoty urychlovacího napětí U z intervalu 1 – 30 kV a diskutujte s ohledem na vlnovou délku světla použitého v OM.   +  - Vypočtěte vlnovou délku urychlených elektronů pro tři různé hodnoty urychlovacího napětí ​//U// z intervalu 1 – 30 kV a diskutujte s ohledem na vlnovou délku světla použitého v OM.   
-  - Spočítejte rozlišení a hloubku ostrosti elektronového mikroskopu (SEM) pro tři vybrané hodnoty urychlujícího napětí (viz bod 3), víte-li, že jeho rozlišení je 2 nm při U = 30 kV. Při výpočtu předpokládejte stejnou hodnotu numerické apertury. Diskutujte velikost numerické apertury se změnou pracovní vzdálenosti. Vypočtené parametry porovnejte s parametry OM.+  - Spočítejte rozlišení a hloubku ostrosti elektronového mikroskopu (SEM) pro tři vybrané hodnoty urychlujícího napětí (viz bod 3), víte-li, že jeho rozlišení je 2 nm při //U// = 30 kV. Při výpočtu předpokládejte stejnou hodnotu numerické apertury. Diskutujte velikost numerické apertury se změnou pracovní vzdálenosti. Vypočtené parametry porovnejte s parametry OM.
   - Vzorky pozorované v OM založte do skenovacího elektronového mikroskopu a pozorujte při stejných zvětšeních jako u OM. Obrazy vzorků získané optickým a elektronovým mikroskopem porovnejte a diskutujte rozdíly.   - Vzorky pozorované v OM založte do skenovacího elektronového mikroskopu a pozorujte při stejných zvětšeních jako u OM. Obrazy vzorků získané optickým a elektronovým mikroskopem porovnejte a diskutujte rozdíly.
   - Pro jednu hodnotu urychlovacího napětí a zvolenou pracovní vzdálenost se pokuste SEM seřídit tak, abyste vybraný vzorek mohli pozorovat při co největším možném zvětšení. Zaznamenejte obrazy povrchu vzorku pomocí detektorů sekundárních a zpětně odražených elektronů a diskutujte jejich rozdíly.   - Pro jednu hodnotu urychlovacího napětí a zvolenou pracovní vzdálenost se pokuste SEM seřídit tak, abyste vybraný vzorek mohli pozorovat při co největším možném zvětšení. Zaznamenejte obrazy povrchu vzorku pomocí detektorů sekundárních a zpětně odražených elektronů a diskutujte jejich rozdíly.
zadani/331.1486116347.txt.gz · Poslední úprava: 3.02.2017 11:05 autor: Kudrnová Hana Mgr.