... vše o fyzikálním praktiku najdete právě na těchto stránkách
UK • MFF • KVOF
Zde můžete vidět rozdíly mezi vybranou verzí a aktuální verzí dané stránky.
Obě strany předchozí revize Předchozí verze | |||
zadani:331 [ 3.02.2017 11:05] Kudrnová Hana Mgr. |
zadani:331 [ 3.02.2017 11:08] Kudrnová Hana Mgr. |
||
---|---|---|---|
Řádek 12: | Řádek 12: | ||
- U optického mikroskopu (OM) zjistěte zvětšení kamery pro objektivy s různým zvětšením. Pozorování proveďte v uspořádání analogickém skenovacímu elektronovému mikroskopu (SEM), tj. v odraženém světle. | - U optického mikroskopu (OM) zjistěte zvětšení kamery pro objektivy s různým zvětšením. Pozorování proveďte v uspořádání analogickém skenovacímu elektronovému mikroskopu (SEM), tj. v odraženém světle. | ||
- Na vhodných vzorcích zjistěte rozlišení OM a hloubku ostrosti pro alespoň dva různé objektivy a tyto hodnoty ověřte výpočtem. Pro výpočet uvažujte světlo o vlnové délce 550 nm. Rozdíly diskutujte. | - Na vhodných vzorcích zjistěte rozlišení OM a hloubku ostrosti pro alespoň dva různé objektivy a tyto hodnoty ověřte výpočtem. Pro výpočet uvažujte světlo o vlnové délce 550 nm. Rozdíly diskutujte. | ||
- | - Vypočtěte vlnovou délku urychlených elektronů pro tři různé hodnoty urychlovacího napětí U z intervalu 1 – 30 kV a diskutujte s ohledem na vlnovou délku světla použitého v OM. | + | - Vypočtěte vlnovou délku urychlených elektronů pro tři různé hodnoty urychlovacího napětí //U// z intervalu 1 – 30 kV a diskutujte s ohledem na vlnovou délku světla použitého v OM. |
- | - Spočítejte rozlišení a hloubku ostrosti elektronového mikroskopu (SEM) pro tři vybrané hodnoty urychlujícího napětí (viz bod 3), víte-li, že jeho rozlišení je 2 nm při U = 30 kV. Při výpočtu předpokládejte stejnou hodnotu numerické apertury. Diskutujte velikost numerické apertury se změnou pracovní vzdálenosti. Vypočtené parametry porovnejte s parametry OM. | + | - Spočítejte rozlišení a hloubku ostrosti elektronového mikroskopu (SEM) pro tři vybrané hodnoty urychlujícího napětí (viz bod 3), víte-li, že jeho rozlišení je 2 nm při //U// = 30 kV. Při výpočtu předpokládejte stejnou hodnotu numerické apertury. Diskutujte velikost numerické apertury se změnou pracovní vzdálenosti. Vypočtené parametry porovnejte s parametry OM. |
- Vzorky pozorované v OM založte do skenovacího elektronového mikroskopu a pozorujte při stejných zvětšeních jako u OM. Obrazy vzorků získané optickým a elektronovým mikroskopem porovnejte a diskutujte rozdíly. | - Vzorky pozorované v OM založte do skenovacího elektronového mikroskopu a pozorujte při stejných zvětšeních jako u OM. Obrazy vzorků získané optickým a elektronovým mikroskopem porovnejte a diskutujte rozdíly. | ||
- Pro jednu hodnotu urychlovacího napětí a zvolenou pracovní vzdálenost se pokuste SEM seřídit tak, abyste vybraný vzorek mohli pozorovat při co největším možném zvětšení. Zaznamenejte obrazy povrchu vzorku pomocí detektorů sekundárních a zpětně odražených elektronů a diskutujte jejich rozdíly. | - Pro jednu hodnotu urychlovacího napětí a zvolenou pracovní vzdálenost se pokuste SEM seřídit tak, abyste vybraný vzorek mohli pozorovat při co největším možném zvětšení. Zaznamenejte obrazy povrchu vzorku pomocí detektorů sekundárních a zpětně odražených elektronů a diskutujte jejich rozdíly. |