Základní fyzikální praktikum
... vše o fyzikálním praktiku najdete právě na těchto stránkách
UK • MFF • KVOF
Uživatelské nástroje
zadani:331
Rozdíly
Zde můžete vidět rozdíly mezi vybranou verzí a aktuální verzí dané stránky.
| Následující verze | Předchozí verze Následující verze Obě strany příští revize | ||
|
zadani:331 [ 2.09.2013 10:17] 127.0.0.1 upraveno mimo DokuWiki |
zadani:331 [ 8.11.2013 11:48] Kudrnová Hana Mgr. |
||
|---|---|---|---|
| Řádek 13: | Řádek 13: | ||
| - Vypočítejte rozlišení OM a hloubku ostrosti pro objektivy použité v bodě 1 a porovnejte s výsledky pozorování vhodného vzorku v OM. Pro výpočet uvažujte světlo o vlnové délce 550 nm. | - Vypočítejte rozlišení OM a hloubku ostrosti pro objektivy použité v bodě 1 a porovnejte s výsledky pozorování vhodného vzorku v OM. Pro výpočet uvažujte světlo o vlnové délce 550 nm. | ||
| - Určete vlnovou délku urychlených elektronů pro tři různé hodnoty urychlovacího napětí (U) z intervalu 1 -- 30 kV a diskutujte s ohledem na vlnovou délku světla použitého v OM. | - Určete vlnovou délku urychlených elektronů pro tři různé hodnoty urychlovacího napětí (U) z intervalu 1 -- 30 kV a diskutujte s ohledem na vlnovou délku světla použitého v OM. | ||
| - | - Spočítejte rozlišení a hloubku ostrosti elektronového mikroskopu (EM) pro tři vybrané hodnoty urychlujícího napětí (viz. bod 3), víte-li, že jeho rozlišení je 2~nm při //U//~=~30~kV. Při výpočtu předpokládejte stejnou hodnotu numerické apertury. Diskutujte velikost numerické apertury se změnou pracovní vzdálenosti. Vypočtené parametry porovnejte s parametry OM. | + | - Spočítejte rozlišení a hloubku ostrosti elektronového mikroskopu (EM) pro tři vybrané hodnoty urychlujícího napětí (viz bod 3), víte-li, že jeho rozlišení je 2~nm při //U//~=~30~kV. Při výpočtu předpokládejte stejnou hodnotu numerické apertury. Diskutujte velikost numerické apertury se změnou pracovní vzdálenosti. Vypočtené parametry porovnejte s parametry OM. |
| - Vzorky pozorované v OM založte do skenovacího elektronového mikroskopu a pozorujte při stejných zvětšeních jako u OM. Získané obrazy porovnejte a diskutujte rozdíly. | - Vzorky pozorované v OM založte do skenovacího elektronového mikroskopu a pozorujte při stejných zvětšeních jako u OM. Získané obrazy porovnejte a diskutujte rozdíly. | ||
| - Pro jednu hodnotu urychlovacího napětí a zvolenou pracovní vzdálenost se pokuste SEM seřídit tak, aby jste vybraný vzorek mohli pozorovat při co největším možném zvětšení (SEM MIRA I umožňuje max. zvětšení 1 000 000 x). Zaznamenejte obrazy povrchu vzorku pomocí detektorů sekundárních a zpětně odražených elektronů a diskutujte jejich rozdíly. | - Pro jednu hodnotu urychlovacího napětí a zvolenou pracovní vzdálenost se pokuste SEM seřídit tak, aby jste vybraný vzorek mohli pozorovat při co největším možném zvětšení (SEM MIRA I umožňuje max. zvětšení 1 000 000 x). Zaznamenejte obrazy povrchu vzorku pomocí detektorů sekundárních a zpětně odražených elektronů a diskutujte jejich rozdíly. | ||
| Řádek 19: | Řádek 19: | ||
| **Místnost s mikroskopem je klimatizována na teplotu 20°C. Je tam poměrně chladno, přizpůsobte tomu proto svůj oděv.** | **Místnost s mikroskopem je klimatizována na teplotu 20°C. Je tam poměrně chladno, přizpůsobte tomu proto svůj oděv.** | ||
| - | **Úloha je připravena k měření, student si ji může zapsat po předchozí domluvě s vedoucí praktika.** | ||
| - | + | ** Základní vztahy a klíčová slova: ** | |
| - | ===== Základní vztahy a klíčová slova ===== | + | |
| zobrazení centrovanými optickými systémy, konvenční zraková vzdálenost, zvětšení, | zobrazení centrovanými optickými systémy, konvenční zraková vzdálenost, zvětšení, | ||
zadani/331.txt · Poslední úprava: 3.02.2017 11:08 autor: Kudrnová Hana Mgr.
Nástroje pro stránku
