====== (31) Optická versus elektronová mikroskopie ======


{{:zadani:texty:txt_331.pdf|Studijní text}}


===== Pracovní úkol =====

  - U optického mikroskopu (OM) zjistěte zvětšení kamery pro objektivy s různým zvětšením. Pozorování proveďte v uspořádání analogickém skenovacímu elektronovému mikroskopu (SEM), tj. v odraženém světle. 
  - Na vhodných vzorcích zjistěte rozlišení OM a hloubku ostrosti pro alespoň dva různé objektivy a tyto hodnoty ověřte výpočtem. Pro výpočet uvažujte světlo o vlnové délce 550 nm. Rozdíly diskutujte.
  - Vypočtěte vlnovou délku urychlených elektronů pro tři různé hodnoty urychlovacího napětí //U// z intervalu 1 – 30 kV a diskutujte s ohledem na vlnovou délku světla použitého v OM.  
  - Spočítejte rozlišení a hloubku ostrosti elektronového mikroskopu (SEM) pro tři vybrané hodnoty urychlujícího napětí (viz bod 3), víte-li, že jeho rozlišení je 2 nm při //U// = 30 kV. Při výpočtu předpokládejte stejnou hodnotu numerické apertury. Diskutujte velikost numerické apertury se změnou pracovní vzdálenosti. Vypočtené parametry porovnejte s parametry OM.
  - Vzorky pozorované v OM založte do skenovacího elektronového mikroskopu a pozorujte při stejných zvětšeních jako u OM. Obrazy vzorků získané optickým a elektronovým mikroskopem porovnejte a diskutujte rozdíly.
  - Pro jednu hodnotu urychlovacího napětí a zvolenou pracovní vzdálenost se pokuste SEM seřídit tak, abyste vybraný vzorek mohli pozorovat při co největším možném zvětšení. Zaznamenejte obrazy povrchu vzorku pomocí detektorů sekundárních a zpětně odražených elektronů a diskutujte jejich rozdíly.

**Místnost s mikroskopem je klimatizována na teplotu 20°C. Je tam poměrně chladno, přizpůsobte tomu proto svůj oděv.**


** Základní vztahy a klíčová slova: **

zobrazení centrovanými optickými systémy, zvětšení,
rozlišení, hloubka ostrosti, numerická apertura, optický mikroskop (OLYMPUS BX51/BX52),
elektronový mikroskop (MIRA I Tescan)