Příklad morfologie povrchu oxidu wolframu získané metodou AFM.
Student: Vojík Jiří
Vedoucí: Doc. RNDr. Karel Mašek, Dr.
Konzultant: Prof. RNDr. Vladimír Matolín, DrSc.
Stav práce: obhájená
Abstrakt:
Oxidové vrstvy se v současnosti používají v mnoha laboratorních i průmyslových aplikacích. Vrstvy WO3 se používají jako základní materiál různých katalyzátorů a chemických senzorů. Detekce plynů je tímto typem senzoru je založena změně vodivosti vrstvy vlivem například redukčního prostředí. Mikrostruktura a morfologie těchto vrstev určují jejich fyzikálně chemické vlastnosti a je možné je modifikovat přimísením například aktivních kovů jako Pd, Pt, Au apod.
Úkolem bakalářské práce je příprava čistých a modifikovaných vrstev oxidu wolframu a měření jejich morfologických a plynově senzorických vlastností. Vrstvy budou připravovány magnetronovým naprašováním na povrch speciálního čipu vyvinutého na naší katedře. Tento čip umožňuje měření vodivosti tenké vrstvy čtyřbodovou metodou a tím sledování odezvy senzoru na reakční atmosféru přímo v reaktoru. Struktura a morfologie vrstev bude studována několika metodami. Chemické složení a chemický stav zkoumaných povrchů bude analyzován metodou fotoelektronové spektroskopie (XPS) pomocí vícekanálového hemisférického analyzátoru. Kontrola morfologie povrchu oxidové vrstvy se provádí na vzduchu metodou AFM od firmy Veeco. Všechny zmíněné metody jsou dostupné na našem pracovišti.
|
|
|
Příklad morfologie povrchu oxidu wolframu získané metodou AFM. | |
Zásady pro vypracování:
1) seznámení se s metodou přípravy vzorků,
2) měření chemického stavu vzorků metodou XPS,
3) měření morfologie vrstev,
4) měření senzorických vlastností,
5) vyhodnocení naměřených dat.
Navrhovaná bakalářská práce úzce souvisí s projekty řešenými ve skupině povrchů KFPP a lze na ni navázat v následném magisterském i doktorandském studiu.
Literatura:
1) L. Eckertová, L. Frank, Metody analýzy povrchů - Elektronová mikroskopie a difrakce, Academia, Praha, 1996.
2) L. Eckertová a kol., Metody analýzy povrchů, Elektronová spektroskopie, Academia, Praha 1990.
3) Články v odborných časopisech podle dohody s vedoucím práce.