Průletové spektrometry v systémech ESD
Přednášející: Dr. Tomáš Gronych, KEVF MFF UK, Praha
Použití metody 'Direct Simulation Monte Carlo' pro modelování nanášení tenkých vrstev
Přednášející: Dr. Stanislav Kadlec, Fyzikální ústav AV ČR, Praha
Elektronický měřicí systém pro zpracování signálů
Přednášející: RNDr. Vojtěch Hanzal, KEVF MFF UK, Praha
On theories of ion collection by a Langmuir probe or dust particle
Přednášející: Prof. J. E. Allen, University of Oxford, U. K.
Electron Channel Multipliers for the Detection of Charged Particles
Přednášející: Dr. Hans Lauche, Max Planck Institute for Aeronomie, Katlenburg-Lindau, SRN