Vedoucí: Doc. Mgr. Josef Mysliveček, Ph.D.
Stav projektu: volný
Anotace:
Difrakce nízkoenergetických elektronů (LEED) přináší informace o morfologii a krystalografické struktuře povrchů pevných látek. Krystalografická struktura je kódována v rozložení a intenzitě difrakčních stop, morfologie v intenzitním profilu stop [1], [2]. Vypisovaný projekt si klade za cíl odečet a parametrizaci intenzitního profilu v experimentálních datech LEED. Lze použít/modifikovat jak existující nástroje na zpracování obrazových dat [3], tak „ruční“ přístup [4]. Snímků ke zpracování je cca 700.
Literatura:
[1] F. Kraushofer, A. M. Imre, G. Franceschi, T. Kißlinger, E. Rheinfrank, M. Schmid, U. Diebold, L. Hammer, and M. Riva, “ViPErLEED package I: Calculation of I(V) curves and structural optimization,” Phys. Rev. Res. 7, 013005, 2025, doi:10.1103/PhysRevResearch.7.013005.
[2] M. Henzler, “LEED studies of surface imperfections,” Appl. Surf. Sci. 11–12, 450, 1982, doi:10.1016/0378-5963(82)90092-7.
[3] M. Schmid, F. Kraushofer, A. M. Imre, T. Kißlinger, L. Hammer, U. Diebold, and M. Riva, “ViPErLEED package II: Spot tracking, extraction, and processing of I(V) curves,” Phys. Rev. Res. 7, 013006, 2025, doi:10.1103/PhysRevResearch.7.013006.
[4] D. Nečas and P. Klapetek, “Gwyddion: an open-source software for SPM data analysis,” Open Phys. 10, 181, 2012, doi:10.2478/s11534-011-0096-2.