Studium dopování safírových vrstev pomocí mikroskopie atomárních sil

Školitel: Doc. RNDr. Pavel Kocán, Ph.D.
Stav práce: volná

Anotace:
Safír dopovaný ionty těžkých kovů má uplatnění jako laser použitelný v extrémních podmínkách. Hlavním cílem bude využití qPlus senzoru pro studium začlenění iontů příměsí do matice krystalu safíru na atomární úrovni. V rámci projektu Evropské inovační rady (EIC) Pathfinder se bude práce zabývat studiem morfologie dopovaného safíru připraveného pulzní laserovou depozicí, a především rozmístěním těchto iontů v mříži safíru. Hlavní technikou bude mikroskopie atomárních sil (AFM) za ultravysokého vakua (UHV) s možností atomárního rozlišení. Práce proběhne ve spolupráci se členy konsorcia evropského projektu.

Literatura

Bert Voigtländer: Scanning Probe Microscopy, Springer Berlin, Heidelberg 2015 JA Venables: Introduction to Surface and Thin Film Processes. Cambridge University Press; 2000. F. J. Giessibl, The qPlus sensor, a powerful core for the atomic force microscope, Rev. Sci. Instr. 90, 011101 (2019) Další literatura dle dohody s vedoucím práce.