Student: López-Roso Redondo Jesús Rubén
Školitel: Mgr. Martin Švec, Ph.D., FZÚ AVČR v.v.i.
Konzultant: Ing. Pavel Jelínek, Ph.D., FZÚ AVČR v.v.i.
Stav práce: obhájená
Abstrakt:
Současný rozvoj rastrovacích mikroskopů pracujících v ultravysokém vákuu umožňuje provádět měření atomárních sil a tunelovacích proudů na jednotlivých atomech či molekulách na povrchu pevné látky. Možnost měření atomárních sil a tunelovacího proudu zároveň otvírá zcela nové možnosti pro charakterizaci povrchů a nanostruktur v nanoskopickém měřítku. Cílem této práce je osvojení si práce s ultravakuovými rastrovacími tunelovacími mikroskopy a senzory atomárních sil různých typů, které jsou k dispozici v rámci našich laboratoří. Cílem práce je provádět studium atomární a elektronové struktury vybraných molekul na povrchu pevných látek. Budou studovány vybrané chemické procesy a možnosti manipulace jednotlivých molekul do organizovaných celků.
Current development of Ultra-High Vacuum Scanning Probe Microscopy (UHV-SPM) allows simultaneous measurements of atomic forces and tunneling current over single atoms or molecule on surfaces. The possibility of simultaneous acquisition of atomic forces and the tunneling current opens new possibilities in characterization of surfaces and nanostructures at the nanoscale. The objective of this work is to adopt skills to operate various types of UHV-SPM equipped with sensors and to perform advanced studies of atomic and electronic structures of selected molecules on surfaces. Selected chemical reactions and possibilities of single-molecule manipulation will be examined.
Předpokládané znalosti:
— základní znalost kvantové mechaniky a fyziky povrchů pevných látek
— základní znalost rastrovacích mikroskopů
Literatura:
A. Zangwill, Physics at Surfaces, Cambridge Press, 1988.
F. J. Giessibl, Rev. Mod. Phys. 75, 949 (2003).
C. J. Chen Introduction to Scanning Tunneling Microscopy, Oxford
University Press, 2008.