Elektronické a strukturní vlastnosti modelových katalyzátorů na bázi oxidu ceru

Student: Duchoň Tomáš
Školitel: RNDr. Kateřina Veltruská, CSc.
Konzultant: Prof. RNDr. Vladimír Matolín, DrSc.
Stav práce: obhájená

Abstrakt:

Mechanismy, probíhající v reálných katalyzátorech jsou vzhledem k jejich komplikovanému složení a struktuře, složitým problémem. K objasnění těchto mechanismů značnou měrou přispívají studia na modelových katalyzátorech – tenkých epitaxních vrstvách na kovových substrátech. Ve skupině povrchů se již delší dobu pracuje na systému CeO2/Cu(111), kde byla studována interakce s katalyticky aktivními kovy a zkoumána interakce s plyny. Nedávno se podařilo připravit unikátní epitaxní systém Ce2O3/Cu(111).

Práce bude zaměřena na přípravu a studium výše zmíněných systémů s důrazem na Ce2O3/Cu(111). Systémy budou připraveny in situ reaktivním napařováním a studovány metodami fotoelektronové spektroskopie – rentgenovskou (XPS), ultrafialovou (UPS) a zejména jejich úhlově rozlišenými modifikacemi (XPD a ARUPS), které umožní získat podrobné informace o chemickém složení, prostorové a elektronové struktuře (včetně pásové struktury), interakci deponovaných kovů se substrátem a další. K charakterizaci budou použity i další metody dostupné na aparatuře - elektronová difrakce (LEED) a spektroskopie rozptýlených iontů (ISS). Na připravených površích bude studována adsorpce jednoduchých plynů, opět výše zmíněnými metodami. Práce bude probíhat na UHV aparaturách vybavených komerčními spektrometry. Předpokládá se, že část experimentů prováděna na spektrometru optické dráhy MSB v Terstu, případně na jiných synchrotronech.

Zásady pro vypracování:
1. Studium literatury.
2. Příprava vrstev CeOx – čistých i dopovaných katalyticky aktivními kovy.
3. Charakterizace metodami XPS, LEED, ISS, XPD, ARUPS.
4. Zpracování dat.

Literatura:
1. D. Briggs, M.P. Seah: Practical Surface Analysis, vol. 2 - Auger and X-ray Photoelectron spectroscopy, Wiley, 1990, ISBN 0-471-92081-9.
2. Hufner: Photolectron Spectroscopy, Springer, 2003, ISBN 3-540-41802-4.
3. C. Julian Chen, Introduction to Scanning Tunneling Microscopy (Oxford University Press, USA, 2007).
4. Další časopisecká literatura po dohodě s vedoucím práce.