Školitel: Ing. Petr Jiříček, CSc., Fyzikální ústav AV ČR
Konzultant: doc. RNDr. Igor Bartoš, DrSc., Fyzikální ústav AV ČR a RNDr. Josef Zemek, CSc., Fyzikální ústav AV ČR
Stav práce: volná
Anotace:
Útlumová délka elektronů je důležitý parametr charakterizující pevnou látku. Tento parametr je dobře prostudován pro amorfní a polykrystalické látky. Naproti tomu jeho znalost pro povrchy krystalických materiálů je velice omezená. Proto se v současné době zaměřuje výzkum problematiky střední útlumové délky elektronů na povrchy krystalů. V rámci doktorského studia by tato problematika měla být zkoumána na vybraných krystalických látkách experimentálně (metody: difrakce pomalých elektronů, fotoelektronová difrakce) a pomocí teoretických modelů využívající programy EDAC (fotoelektronová difrakce) a SATLEED (difrakce pomalých elektronů).
Attenuation length (AL) is important parameter characterizing solids. This parameter is well known for amorphous and polycrystalline substances. On the other hand its knowledge for surfaces of crystalline materials is very poor. From this reason the research of AL is focused for crystal solid surfaces now. During doctoral study the problems connected with AL of ordered surfaces will be studied experimentally (methods: low energy electron diffraction, photoelectron diffraction) and by theoretical simulation using EDAC code (photoelectron diffraction) and SATLEED one (low energy electron diffraction).
Předpokládané znalosti:
Základy fyziky pevných látek, základy fyziky povrchů.
Literatura:
H. Ibach, Physics of Surfaces and Interfaces, Springer-Verlag Berlin Heildelberg, 2006.
D.Briggs, J. T.Grant, Surface Analysis by Auger and X-Ray Photoelectron Spectroscopy, IM Publications and SurfaceSpectra Limited, 2003.