Systém pro snímání a vyhodnocení dat rentgenovské fotoelektrické difrakce XPD.

Student: Jiří Libra
Vedoucí: Prof. RNDr. Vladimír Matolín, DrSc.
Konzultant: RNDr. Kateřina Veltruská, CSc., Dr. Martin Polčík (Fritz-Haber Institut, Berlín)
Stav práce: obhájená

Abstrakt:
Diplomová práce bude řešena ve dvou etapách. Prvním úkolem bude vybudovat systém definovaného nastavování polohy držáku vzorku fotoelektronového spektrometru XPS. Dva krokové motory budou ovládat přesné nastavení azimutálního a polárního úhlu detekce fotoelektronů hemisférickým analyzátorem. V druhé fázi bude nastavování polohy koordinováno s měřením intenzity vybraných píků tak, aby byly postupně získány úhlové závislosti v předem zvoleném rozsahu polárního a azimutálního úhlu. Bude potřeba napojit systém řízení polohy na komerční software ovládající elektronový spektrometr (Omicron EA 125). Budou využity zkušenosti s instalací stejného spektrometru pro XPD na synchrotronu BESSY 2.