Studium interakce tenkých vrstev přechodových kovů se substráty sp- kovů a jejich oxidy spektroskopiemi XPS a ISS.

Student: Daniel Mazur
Vedoucí: RNDr. Kateřina Veltruská, CSc.
Konzultant: Prof. RNDr. Vladimír Matolín, DrSc.
Stav práce: obhájená

Abstrakt:
Úkolem diplomové práce bude přispět k rozvoji metod určování parametrů deponovaných vrstev kombinací rentgenové fotoelektronové spektroskopie (XPS) a spektroskopie rozptylu nízkoenergetických iontů (LEIS).
Pokrytí povrchu v případě nespojitých vrstev bude určováno z energetického rozdělení odražených iontů He+. Elektronická interakce kov-substrát bude určována z chemických posuvů vnitřních hladin obou materiálů a z vývoje struktury jejich valenčního pásu. Experimentální data budou získávána na moderních komerčních spektrometrech, kterými je naše pracoviště vybaveno.
Postup prací:
1. Studium růstu Pd na Al₂O₃ a SnO₂ metodou XPS a ISS
2. Studium elektronické interakce Pd - Sn metodou XPS
3. Konstrukce zařízení pro studium povrchových struktur metodou fotoelektronové difrakce (XPD).
Literatura: J. W. Niemanstverdriet: Spectroscopy in Catalysis