Student: Michal Škoda
Vedoucí: Prof. RNDr. Vladimír Matolín, DrSc.
Konzultant: RNDr. Kateřina Veltruská, CSc., Mgr. Natalia Tsud, Dr
Stav práce: obhájená
Abstrakt:
Metoda fotoelektronové spektroskopie v ultrafialové oblasti je významným nástrojem studia hustoty stavů ve valenčním pásu pevných látek. Přechodové kovy skupiny VIII B s téměř zaplněným valenčním pásem (Pd, Pt, Rh, ...) jsou účinnými katalyzátory mnoha chemických reakcí, což souvisí s jejich vysokou hustotou stavů v oblasti 0 – 2 eV pod Fermiho mezí. Adsorpce molekul (CO, H2, O2) na povrchu vede k výrazným změnám v lokální hustotě stavů pod Fermiho mezí vlivem přenosu náboje mezi substrátem a adsorbátem. Výrazné změny v obsazení stavů lze pozorovat i vlivem hybridizace orbitálů d a s,p při vzniku slitin s kovy skupin III A a IV A. Důsledkem vzniku slitiny a změny v hustotě stavů je změna reaktivity povrchu. Měření struktury valenčního pásu je fundamentálním studiem pomáhajícím pochopit mechanizmy adsorpčních procesů.
Ke studiu bude využita metoda UPS na katedře EVF s excitací UV zářením He I (20.2 eV) a metoda SRPES s excitací synchrotronním zářením v oblasti 50 – 100 eV na měřící stanici MSB synchrotronu Elettra.
Výsledky měření budou porovnávány s výsledky získanými z difrakce pomalých elektronů (LEED) a difrakce fotoelektronů (XPD) s cílem určení hustoty stavů pro různé struktury povrchů.
![]() |
![]() |
Příklad: Valenční pás Pd a slitiny PdAl |