Příklad XPD povrchu 1x1 Cu(111) – KEVF, LEED povrchu (31/2x31/2)R45 Ni(111) - Elettra
Student: Katarína Gereová
Vedoucí: Prof. RNDr. Vladimír Matolín, DrSc.
Konzultant: RNDr. Kateřina Veltruská, CSc.
Mgr. František Šutara, Ph.D.
Stav práce: obhájená
Abstrakt:
Metoda difrakce fotoelektronů je založena na principu měření úhlové závislosti intenzity fotoelektronových linií elektronů emitovaných z monokrystalických povrchů v důsledku jejich ozáření monochromatickým rtg. zářením. Je to metoda rozvíjející se teprve v posledních letech a přinášející unikátní informace o struktuře povrchů s prvkovým rozlišením. Metoda umožňuje studovat povrchové uspořádání vybraných atomů. Zkoumané vzorky jsou umístěny v UHV komoře na manipulátoru tak, že je jimi možno otáčet a tím měnit polární a azimutální úhel fotoeletronů detekovaných analyzátorem spektrometru XPS. Pohyby jsou řízeny počítačem prostřednictvím krokových motorů a v každé poloze jsou automaticky snímána zvolená spektra. Měření budou probíhat na spektrometru SPECS PHOIBOS 150 MCD na katedře EVF a na měřící stanici optické dráhy MSB synchrotronu Elettra v Terstu.
Výsledky měření struktury metodou XPD budou porovnávány s výsledky získanými z difrakce pomalých elektronů (LEED) a fotoemisních experimentů s využitím synchrotronního záření na optické dráze MSB synchrotronu Elettra v Terstu. Cílem měření bude určení lokální struktury, t.j. uspořádání atomů na krátkou vzdálenost.