Příklady: RHEED difraktogram z vrstvy Pd na Al2O3 a XPD difraktogram povrchu Cu(100).
Student: Martin Mixa
Vedoucí: RNDr. Karel Mašek, Dr.
Konzultant: Prof. RNDr. Vladimír Matolín, DrSc.
Stav práce: obhájená
Abstrakt:
Bimetalické systémy jsou v poslední době předmětem širokého výzkumu z hlediska jejich zajímavých fyzikálních a chemických vlastností. K nejzajímavějším kombinacím patří slitiny kovů s s,p elektronovou strukturou (Sn, Al, ..) a přechodových kovů (Pd, Rh, Ni, Cu..), kde je pozorována silná bimetalická interakce. Struktura a růst bimetalických systémů budou studovány metodou reflexní difrakce rychlých elektronů (RHEED) a spektroskopií charakteristických ztrát. Experimentální zařízení je vybaveno komerčním analyzátorem RHEA-100 od firmy Staib Instruments, které umožňuje měření EELS spekter přímo z difraktovaných elektronových svazků (RHEED). Výsledky měření metodami RHEED a EELS budou srovnávány s výsledky získanými dalšími metodami dostupnými v laboratoři povrchů na katedře EVF. Zde se jedná zejména o metody fotoelektronové difrakce a spektroskopie (XPD, XPS). Metoda difrakce fotoelektronů je založena na principu měření úhlové závislosti intenzity fotoelektronových linií elektronů emitovaných z monokrystalických povrchů v důsledku jejich ozáření monochromatickým rtg. zářením. Tato metoda přináší unikátní informace o struktuře povrchů s prvkovým rozlišením. Metoda umožňuje studovat povrchové uspořádání vybraných atomů.
Diplomová práce by měla poskytnout popis strukturních parametrů bimetalických systémů připravených za určitých experimentálních podmínek (teplota podložky, struktura a složení podložky, rychlost napařování apod.).