Příprava tenkých vrstev NEG a jejich studium metodami SIMS a XPS.

Student: Jakub Drnec
Vedoucí: Prof. RNDr. Vladimír Matolín, DrSc.
Konzultant: RNDr. Kateřina Veltruská, CSc., RNDr. Karel Mašek, Dr.
Stav práce: obhájená

Abstrakt:
Tenké vrstvy nevypařovaných getrů (NEG) se ukazují jako velmi perspektivní pro čerpání vakuových aparatur v oblasti extrémně nízkých tlaků (pod 10-9 Pa), které nacházejí uplatnění především v konstrukci urychlovačů elementárních částic pro vědecké a medicínské účely.

Diplomová práce se bude skládat ze dvou dílčích úkolů. Prvním úkolem bude připravovat vrstvy slitin TiZrV o různém složení a struktuře metodou naprašování v UHV podmínkách. Podle postupu práce bude systém TiZrV případně rozšířen o další složku v podobě katalyticky aktivních kovů, např. Pd, s cílem připravit NEG nové generace. Druhým úkolem bude charakterizovat složení vrstev metodami povrchové analýzy, především hmotnostní spektrometrie sekundárních iontů (SIMS) a fotoelektronové spektroskopie (XPS), a to jak v průběhu jejich teplotní aktivace, tak v průběhu chemisorpce molekul plynů (H2, CO, CO2).

Práce bude řešena ve spolupráci s CERN, kde byly getry TiZrV, vyznačující se nízkou aktivační teplotou, vyvinuty pro použití při čerpání budoucího urychlovače L