Student: Petr Hanyš
Supervisor: RNDr. Václav Nehasil, Dr.
Stav práce:
Abstract:
Pro zvýšení citlivosti, případně selektivity, bývá povrch senzorů plynu na bázi SnO2 dopován různými kovy, např. Pd. V této práci byly studovány změny elektronické struktury systému Rh/SnO2 během interakce s molekulami CO a O2 zejména metodami Rentgenové fotoelektronové spektroskopie (XPS), složení vzorku bylo sledováno metodami XPS a Augerovy elektronové spektroskopie (AES). Interakce s molekulami CO a O2 byla sledována metodou termodesorpční spektroskopie (TDS). Analýzou XPS spektra spojenou s vývojem složení povrchu byla prokázána redukce SnO2 substrátu při depozici Rh a diskutována možnost vytváření povrchové slitiny Rh-Sn. Proces redukce je posílen zvýšenou teplotou, interakce s molekulami CO jej však výrazně neovlivní. Následným vystavením atmosféře O2 dochází k oxidaci pouze několika prvních atomárních rovin, hlubší vrstvy zůstanou redukované. V rámci práce byla také provedena zkušební měření na nově instalovaném XPS systému.
Doping with various metals, e. g. Pd, Pt, is a common technique used to enhance the sensitivity or selectivity of SnO2-based gas sensors. In this work, the changes in electronic configuration of the Rh/SnO2 system during annealing and CO and O2 exposition was studied especially by methods of X-ray Photoelectron Spectroscopy(XPS), composition was monitored by XPS and Auger Electron Spectroscopy (AES). The interaction with CO molecules was monitored by Temperature Programmed Desorption (TPD). The surface reduction of the SnO2 substrate during the Rh deposition was proved by the analysis of XPS spectrum in connection with changes in surface composition and possible formation of surface Rh-Sn alloy was discussed. This process was enhanced by temperature increase whereas not being distinctly influenced by the interaction with CO molecules. Following exposition in the O2 atmosphere leads to oxidation of only few top atomic layers. This work included also testing measurements on newly installed XPS device.