Studium interakce hrotu rastrovacího tunelového mikroskopu s atomy kovu na povrchu křemíku

Student: Dana Turčinková
Vedoucí: Doc. RNDr. Ivan Ošťádal, CSc.
Stav práce: obhájená

Abstrakt:

Práce se zabývá interakcí hrotu rastrovacího tunelového mikroskopu (STM) s atomy kovu, které byly naneseny na povrch křemíku. Tato problematika je důležitá pro jakékoliv měření pomocí STM. Při jistém nastavení parametrů tunelového přechodu (napětí, polarita, proud resp. vzdálenost) může docházet k výraznému silovému působení na atomz povrchu v okolí vrcholu hrotu. Hrot tak může vytrhávat atomy z povrchu nebo působit na atomy, které jsou adsorbovány na povrchu (ovlivňovat dobu jejich setrvání v adsorpční pozici, pohyb po povrchu). Tyto procesy mohou nežádoucím způsobem zkreslovat situace pozorované v STM a proto je pro měření potřeba nalézt oblast podmínek, kdy jsou nežádoucí interakce zanedbatelné. Na druhé straně znalost podmínek takového chování může být prakticky využita pro cílenou „manipulaci s jednotlivými atomy“ a dále k vytváření nano-objektů na površích.

Cílem práce bude studium podmínek, při kterých hrot STM prakticky neovlivňuje chování atomů kovu na povrchu a kdy je naopak interakce hrotu podstatná. Pro testování podmínek je potřeba navrhnout vhodné typy experimentů. Jejich součástí bude i pokus o nalezení parametrů pro „odsátí“ a opětovné uvolnění atomu kovu z hrotu na povrch při pokojové teplotě.

Zásady pro vypracování
Úkoly práce jsou:
• Seznámení se s problematikou STM experimentu v ultravakuu
• Příprava rekonstruovaného povrchu Si(100) 2×1
• Depozice vybraného kovu (In, Sn nebo Al) na povrch, vytvoření vzorků s nízkým i vysokým pokrytím a zobrazení získaných struktur v STM
• Návrh experimentu pro kvalitativní a kvantitativní studium interakce
• Provedení a vyhodnocení experimentů

Seznam odborné literatury
1. Javorský J.: Studium heteroepitaxe kovů na povrchu Si(100) 2×1 pomocí STM, Diplomová práce, KEVF MFF UK, Praha, 2006
2. Eckertová L.: Physics of Thin Films, Plenum Press, NY 1986
3. Bai C.: Scanning Tunneling Microscopy and its Application, Springer Series in Surf.Sci.32, Berlin-Heidelberg, New York 1992.
4. Články v odborných časopisech podle doporučení vedoucího práce.