Gas molecule interaction with surfaces of oxides including vanadium
Student: Krutel Jozef
Supervisor: Doc. RNDr. Václav Nehasil, Dr.
Stav práce:
Abstract:
Reaktivita systémů obsahujících vzácné kovy (Pt, Pd, Rh) a oxid ceru je dlouhodobě studována i využívána v praxi. Uplatňuje se zde vlastnost oxidu ceru, který dokáže podpořit reakci tím, že uvolňuje nebo na sebe váže kyslík a krom toho v kombinaci s deponovaným vzácným kovem vytváří i speciální struktury, které ještě reaktivitu systému zvyšují.
Výše jmenované kovy jsou velmi drahé a v současnosti jsou činěny pokusy, jak je nahradit levnějším materiálem. Jedním takovým kovem může být i vanad. Bylo publikováno několik prací, které se kombinací oxidu ceru a vanadu a reaktivitou tohoto systému zabývaly.
Cílem práce bude na připravené tenké vrstvy oxidu ceru napařit nespojitou vrstvu vanadu a prozkoumat katalytické vlastnosti tohoto systému.
Zásady pro vypracování
- Seznámit se s Rentgenovou fotoelektronovou spektroskopií (XPS) a Termodesorpční spektroskopií (TDS).
- Prostudovat ty části doporučené literatury, které se týkají problematiky studované ve vypsané práci.
- Připravit orientované vrstvy CeOx na Rh(111) a Rh(110) a deponovat vhodný kov (pravděpodobně V). Systém charakterizovat pomocí XPS a metodou TDS proměřit jeho adsorpci CO.
- Získané výsledky interpretovat a sepsat ve formě bakalářské práce.
Seznam odborné literatury
-
L. Eckertová a kol., Fyzikální elektronika pevných látek, Univerzita Karlova, Praha, 1992. (Povrch látky, jeho chování a vlastnosti, metody výzkumu)
-
Ch. Kleint, K.-D. Brzoszka, Čs. čas. fyz. A 25 (1975) 345. (Interakce povrchu s plyny, termodesorpční spektroskopie)
-
D. Briggs and M. P. Seah, Practical Surface Analysis, John Willey and Sons, Chichester, England, 1990. (Rentgenová fotoelektronová spektroskopie)
-
Miroslav Kettner, Reactivity of transitiion metals - influence of the degree of oxidation of active substrate, Disertační práce, MFF UK Praha, 2017 (Příprava a chatrakteristika orientovaných vrstev CeO2)
-
A. M. Salvi et al., Surf. Interface Anal. 2001; 31: 255–264 (Příklad XPS měření na směsném oxidu Ce a V)