Povrch Si(111) pasivovaný atomy Sn s molekulami CuPc zobrazený v STM. Vlevo: molekuly zachycené na defektech, vpravo: zobrazení 3 molekul na defektech – stabilní (zelená šipka) a nestabilní „fuzzy“ (žluté šipky) adsorpce.
Student: Szabo Michal
Vedoucí: Doc. RNDr. Ivan Ošťádal, CSc.
Konzultant: Doc. RNDr. Pavel Sobotík, CSc.
Stav práce: obhájená
Abstrakt:
Ftalocyaniny (Pc) s atomem různých kovů a případnou substitucí vodíkových atomů ve vnějších cyklech představují slibné stavební prvky pro molekulární elektroniku. Současná elektronika se opírá o rozvinuté křemíkové technologie a tak je zkoumání planárních molekulárních struktur, jaké mohou tvořit ftalocyaniny, na površích křemíku v popředí zájmu. Studium se opírá o experimentální data získaná zejména pomocí skenovací tunelové mikroskopie (STM), která dokáže zobrazit povrch pevné látky s atomárním rozlišením. STM lze využít také pro zkoumání povrchové elektronové struktury a pro záznam povrchových procesů.
Téma práce vychází z řady výsledků získaných v laboratoři STM během studia ftalocyaninů na kovem (In, Sn, Tl) pasivovaných površích. Planární molekuly Pc jsou při pokojové teplotě na pasivovaných površích značně pohyblivé mezi mělkými minimy adsorpční energie a stabilně se adsorbují výlučně na povrchových defektech. Pro zkoumání mechanismu samouspořádání a stability adsorpce je potřebné mít informaci o vazbě molekuly k povrchu. Po depozici molekul na povrch při snížené teplotě je možné pomocí STM zobrazovat a zkoumat již nepohyblivé molekuly nebo jejich „zpomalené“ přeskoky mezi adsorpčními pozicemi.
1. Porozumět principu měření pomocí STM a interpretaci obrazu.
2. Seznámení se s průběhem ultravakuového experimentu (příprava vzorku s pasivovaným povrchem, chlazení vzorku a měření pomocí STM).
3. Příprava a měření pro vybranou kombinaci Pc a povrchu.
4. Analýza získaných výsledků.
Seznam odborné literatury:
1. Metody analýzy povrchů: iontové, sondové a speciální metody. Editoři: L. Frank, J. Král, Academia, Praha 2002.
2. Chen C.J., Introduction to Scanning Tunneling Microscopy, Oxford Univ. Press, Oxford 1993
3. Další literatura podle doporučení vedoucího práce