Student: Matúš Krajňák
Vedoucí: Doc. Mgr. Iva Matolínová, Dr.
Stav práce: obhájená
Abstrakt:
Fyzikální a chemické vlastnosti materiálů jsou významně ovlivněny jejich strukturou a chemickým složením. Transmisní elektronová mikroskopie (TEM) je mocným nástrojem pro komplexní charakterizaci široké škály materiálů. Vyžaduje však specifickou přípravu vzorků. Fokusovaný svazek iontů (FIB), který pracuje na principu odprašování materiálu urychlenými těžkými ionty (často Ga+), je ideálním nástrojem pro přípravu vzorků pro TEM, neboť dokáže opracovat materiály do podoby velmi tenké folie. Typické rozměry lamely, která je pro elektrony s vysokou energií průhledná, jsou 15 x 10 x 0.15 μm a doba procesu přípravy je okolo 4 h.
V rámci vypsané práce budou v řádkovacím elektronovém mikroskopu (SEM) LYRA studovány možnosti vytváření lamel různých materiálů. Parametry přípravy budou optimalizovány tak, aby výsledná tloušťka lamel po vyleštění povrchu dosahovala přibližně 80 nm. Připravené lamely budou pomocí nanomanipulátoru přeneseny a uchyceny na mřížce pro TEM.
Dílčí úkoly:
1. Bibliografická rešerše
2. Zvládnutí základních funkcí ovládání SEM a FIB
3. Příprava lamel a jejich kontaktování s cílem přenesení na povrch mřížky pro TEM
4. Vyhodnocení výsledků a sepsání diplomové práce
Literatura
1) NANOTECHNOLOGY IN CATALYSIS, B. Zhou, S. Han, R. Raja, G.A. Somorjai, Springer, ISBN 978-0387-34687-8, New York 2007.
2) Physical Principles of Elektron Microscopy, R. F. Egerton, Springer, ISBN 978-0387-25800-0, Edmonton, Kanada 2007.
3) R. Wirth, Chemical Geology 261 (2009) 217.