Vedoucí: Doc. RNDr. Ivan Ošťádal, CSc.
Stav projektu: volný
Anotace:
Použití techniky skenovací tunelové mikroskopie (STM) je omezeno na vodivé povrchy. Měření silové interakce mezi hrotem a povrchem místo tunelového proudu toto omezení obchází a technika mikroskopie atomárních sil (AFM) je použitelná pro zobrazování povrchů s atomárním rozlišením bez ohledu na vodivost vzorku. Mikroskopie AFM využívající laserového paprsku pro odměřování změny polohy senzoru nad povrchem však komplikuje řízení sběru dat. „Bezkontakní“ měření síly pomocí elektrické odezvy kmitajících senzorů (piezoelektrických křemenných prvků – „ladiček“) však umožňuje jednoduchou integraci silového senzoru do měřicí hlavy STM a možnost různých kombinací současného měření pomocí obou technik.
Projekt vychází ze zkušeností laboratoře s vývoje a realizace několika zařízení STM. Úkolem bude upřesnění návrhu a realizace kombinované STM/AFM měřící hlavy a otestování měření pomocí senzoru síly využívajícího změnu frekvence kmitů, jejich amplitudy a fáze.
Projekt dává možnost detailního seznámení s technikami mikroskopií v blízkém poli a praktickým využitím řady znalostí ze základního kurzu fyziky. Práce na projektu se může stát solidním východiskem pro řešení fyzikálního problému s využitím STM techniky v rámci bakalářské práce.