Vedoucí: Prof. RNDr. Vladimír Matolín, DrSc.
Konzultant: Doc. Mgr. Iva Matolínová, Dr., Mgr. Ivan Khalakhan, PhD
Stav projektu: volný
Anotace:
Řádkovací mikroskopie atomárních sil (AFM – atomic force microscopy) a řádkovací mikroskopie sekundárních elektronů (scanning secondary electron microscopy – SEM) patří v současné době mezi nevýznamnější metody studia struktury povrchů pevných látek. Katedra FPP získala v poslední době dva mikroskopy SEM MIRA 3, Tescan, a AFM Multimode 8, Bruker. Oba mikroskopy patří k současné k technologicky nejvyspělejším na světě, SEM je vybaven autoemisní katodou (tzv. FEG SEM) a dosahuje rozlišení jednoho nanometru. AFM je vybaven novým měřícím modem Peak Force tapping, který umožňuje měřit několik povrchových parametrů současně, např. tvrdost povrchu, a to i s atomárním rozlišením. Navíc umožňuje provádět měření v kapalinách, což je důležité pro studium např. biologických vzorků, a nebo pro elektrochemii.
Studentská vědecká práce bude zaměřena na studium struktury pokročilých katalyzátorů pro vodíkové technologie metodami SEM a AFM. Především se zaměříme na studium vlivu interakce povrchů s kapalinami, představujícími potenciálně významné zdroje energie jako jsou metanol nebo kyselina mravenčí. Jako katalyzátory použijeme vrstvy směsných oxidů Ce-Sn-Ox dopované platinovými ionty.
Poznámka, práci je možno začít řešit ihned, tj, před oficiálním zahájením studentských projektů pro školní rok 2013/2014. Další informace mohou uchazeči získat na adrese matolin@mbox.troja.mff.cuni.cz