Studium molekulárních systémů na površích pomocí rastrovací mikroskopie

Student: Pinar Solé Andrés
Školitel: doc. Ing. Pavel Jelínek, Ph.D., FZÚ AV
Konzultant: Oleksandr Stetsovych, Ph.D.
Stav práce: zadaná

Anotace:

Budoucí rozvoj oboru nanoelektroniky silně závisí na možnosti vytváření funkčních nanostruktur požadovaných fyzikálních a chemických vlastností. Jedním z perspektivních směrů se jeví molekulární elektronika využívající konstrukce funkčních nanostruktur na bázi jednotlivých molekul. Nicméně rozvoj této oblasti je podmíněn naší schopností hlubšího pochopení procesů vedoucích k vytváření takovýchto molekulárních nanostruktur a jejich cílené kontroly.

Cílem této práce je osvojení si práce s mikroskopem atomárních sil a rastrovacím tunelovacím mikroskopem pracujícím ve ultra vysokém vakuu. Bude studována možnost konstrukce komplexních molekulárních struktur, jejichž chemické a fyzikální vlastnosti budou studovány pomocí rastrovací mikroskopie a komplementárních technik. V rámci práce je také předpokládán další rozvoj techniky rastrovacích mikroskopů.

ENG.: Future development of the field of nanoelectronics strongly depends on the possibility of creating functional nanostructures of the required physical and chemical properties. One of the promising directions is the molecular electronics using the construction of functional nanostructures based on individual molecules. However, the development of this area is conditioned by our ability to understand the processes leading to the formation of such molecular nanostructures and their targeted control.

The aim of this work is to learn to handle the atomic force microscope and the scanning tunneling microscope working in ultra-high vacuum. The possibility of constructing complex molecular structures whose chemical and physical properties will be studied by scanning probe microscopy and complementary techniques. Further development of the technique of scanning microscopes is also envisaged.

Předpokládané znalosti:

Literatura:

  1. A. Zangwill, Physics at Surfaces, Cambridge Press, 1988
  2. F.J. Giessibl, Rev. Mod. Phys. 75, 949 (2003)
  3. C. J. Chen Introduction to Scanning Tunneling Microscopy, Oxford University Press, 2008.