Student: Jan Polášek
Vedoucí: Doc. RNDr. Karel Mašek, Dr.
Konzultant: Prof. RNDr. Vladimír Matolín, DrSc.
Stav práce: obhájená
Abstrakt:
Systém kov/oxid tvoří základní stavební součást řady průmyslových aplikací v oblasti elektrotechnického průmyslu, heterogenní katalýzy, detekce plynů apod. Z tohoto důvodu je neustále předmětem širokého výzkumu. V rámci této diplomové práce budou fyzikálně-chemické vlastnosti systému kov-oxid (Pt, Au)/WOx , připraveném na různých površích monokrystalu wolframu, studovány metodou reflexní difrakce rychlých elektronů (RHEED) a různými elektronovými spektroskopiemi. Experimentální zařízení je vybaveno vypařovacími elementy pro přípravu tenkých epitaxních vrstev kovů. Epitaxní vrstva oxidu wolframu bude připravena pomocí plazmové oxidace povrchu monokrystalu wolframu. Komerčním analyzátor RHEA-100 od firmy Staib Instruments umožňuje měření charakteristických ztrát elektronů (EELS) přímo z difraktovaných elektronových svazků (RHEED). Vícekanálový hemisférický analyzátor VSW HA-100 nabízí možnost zkoumání těchto systémů dalšími metodami elektronových spektroskopií (AES – spektroskopie Augerových elektronů, EELS, XPS – fotoelektronová spektroskopie). Současně bude studován i vliv redukce oxidu a případná bimetalická interakce na vlastnosti celého systému.
| |
| Experimentální zařízení | RHEED difrakční obrazec |
Zásady pro vypracování:
1) Seznámení se s laboratorním systémem RHEED a XPS-AES.
2) Příprava tenkých epitaxních vrstev WOx na různých površích monokrystalu wolframu.
3) Příprava a studium systémů kov-oxid (Pt, Au – WOx).
4) Vyhodnocení a interpretace naměřených dat.
Navrhovaná diplomová práce úzce souvisí s projekty řešenými ve skupině povrchů KFPP a lze na ni navázat v následném doktorandském studiu. V průběhu studia se předpokládá i účast na měření na Synchrotronu Elettra v Terstu.
Literatura:
1) L. Eckertová, L. Frank, Metody analýzy povrchů – Elektronová mikroskopie a difrakce, Academia, Praha, 1996.
2) L. Eckertová a kol., Metody analýzy povrchů, Elektronová spektroskopie, Academia, Praha 1990.
3) Slavomír Nemšák, Doktorandská disertační práce, MFF UK Praha, 2008.
4) Ayahiko Ichimiya and Philips I. Cohen, Reflection High Energy Diffraction, Cambridge University Press, Cambridge 2004.
5) W. Braun, Applied RHEED, Springer – Verlag Berlin Heidelberg 1999.
6) D. Briggs and M.P.Seah, Practical Surface Analysis, sekond edition, John Wiley & Sons, 1990.
7) Články v odborných časopisech podle dohody s vedoucím práce.